Equipamentos
Microscópio eletrônico de Transmissão JEOL JEM 2800
O JEM-2800 é um microscópio eletrônico de transmissão de 200kV da JEOL que oferece análises de alto rendimento para processos e controle de qualidade de amostras de materiais diversos e semicondutores. O JEM-2800 multifuncional apresenta imagens de alta resolução nos modos TEM, STEM e SEM; mapeamento elementar ultrassensível com um espectrômetro de energia dispersiva de grande ângulo (EDS); e observação in situ de amostras. O JEM-2800 permite magnificações de até 150 milhões de vezes no modo STEM e apresenta resoluções de 0,1 nm no modo TEM e 0,2 nm no modo STEM BF/DF.
Microscopio eletrônico de Varredura JEOL JSM 6610LV
O Microscópio eletrônico de Varredura JEOL JSM 6610LV é o mais completo, em acessórios, fornecido pela Jeol. Esse modelo, permite uma magnificação de até 300 mil vezes a dimensão da região analisada. É capaz de operar com amostras em alto e baixo vácuo. É equipado com dois espectrômetros de raios-X, EDS e WDS, mais um analisador de difração de elétrons retro-espalhados, produzindo mapas de fases, tanto de composição quanto cristalográficas.
Espectrômetro Raman JASCO NRS-5100
O Espectrômetro Raman NRS-5100 é capaz de realizar medidas Raman num range de 80 a 8000 cm-1 de amostras porosas ou sólidas, propiciando uma identificação (fingerprint) do material analisado. Este equipamento possui um laser centrado em 532 nm. É capaz de realizar correção automática de fluorescência e possui 3 diferentes objetivas de focalização (5x, 20x e 100x).
Microscópio de Força Atômica Shimadzu SPM 9700
O Microscópio de Força Atômica Shimadzu SPM 9700 de força atômica é um equipamento capaz de realizar análises de morfologia de alta resolução por cinco diferentes modos de operação. Esses modos possibilitam a produção de mapas de fases por diferentes interações atômicas da ponta de prova com a amostra. o AFM permite também a obtenção de rugosidade bem como contagem de partículas das amostras através de análises com softwares dedicados.
Elipsômetro Angstron PHE 102
O Elipsômetro espectral PHE 102 é um equipamento óptico capaz de determinar a função dielétrica de superfícies de filmes finos, multicamadas através de medidas de reflexão em diferentes polarizações; O PHE 102 possui um sistema de translação XY automática da amostra permitindo a realização de mapas em diferentes regiões da amostra no range de 250 e 2300 nm.