Análises
Microscopia Eletrônica de Transmissão
A análise por microscopia eletrônica de transmissão permite a produção de imagens de alta resolução de nanoestruturas, bem como da própria estrutura atômica do material através da interação de um feixe de elétrons que atravessa no material. O feixe de elétrons é acelerado com tensões de até 200 KV propiciando comprimentos de onda associado de cerca de 2,5 pm (2,5E-12m),
Microscopia Eletrônica de Varredura
A análise por microscopia eletrônica de varredura permite a produção de imagens morfológicas e topológicas de superfícies de amostras a partir da interação de um feixe de elétrons com a superfície do material. Essa interação reproduz uma descrição fiel da estrutura microscópica do material diferenciando inclusive os diferentes átomos que a constitui.
Análise de Composição Química por EDX
A espectroscopia por energia dispersiva de raios-x (EDX) é uma análise realizada no mev e que utiliza da emissão de raios-x característicos das amostras para determinar a composição química e atômica do material. Permite também o levantamento de mapas de fases de átomos constituintes do material.
Análise de Microscopia por Força Atômica
A análise por microscopia eletrônica de varredura produz imagens tanto morfológicas quanto topológicas de superfícies através da interação de elétrons incidentes de um canhão de elétrons com a superfície do material. Essa interação reproduz uma descrição fiel da estrutura microscópica do material diferenciando inclusive os diferentes átomos que a constitui.
Análises Cristalógráficas por Difração de Elétrons Retroespalhados - EBSD
A espectroscopia por energia dispersiva de raios-x (EDX) é uma análise realizada no mev e que utiliza da emissão de raios-x característicos das amostras para determinar a composição química e atômica do material. Permite também o levantamento de mapas de fases de átomos constituintes do material.
Análise por Espectroscopia Raman
A espectroscopia dispersiva por comprimento de onda (WDS) é uma análise que também utiliza da emissão de raios x característicos das amostras para determinar a composição química e atômica do material. No entanto, essa análise utiliza da reflexão de Bragg em diferentes cristais seletivos permitindo uma dispersão mais precisa que a do EDX. Essa técnica é indicada para os casos que se deseja separar linhas de emissão de raio-x muito próximas e que não permite a identificação exata do elemento.